M/K 3D地層測(cè)試儀可測(cè)量紙張、玻璃纖維、紙板、紙巾和毛巾以及許多其他片狀材料的地層。除了測(cè)量地層指數(shù)外，M/K還可以精確測(cè)量板材內(nèi)部的缺陷和絮凝物，以及低密度袋，基重和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)偏差。與攝像系統(tǒng)不同，我們的設(shè)備使用激光類型的聚焦光束來(lái)精確測(cè)量薄片上每個(gè)像素的光密度。測(cè)試所有等級(jí)的紙：粘結(jié)紙、襯紙、再生紙、復(fù)印紙、銅版紙、彩色紙或任何其他等級(jí)的紙。在一次測(cè)試中，M/K地層測(cè)試儀掃描了320cm2 (16cm x 20cm)的大區(qū)域，每個(gè)像素都是獨(dú)立測(cè)量的。沒(méi)有其他臺(tái)式地層測(cè)試器可以匹配這一掃描區(qū)域，因?yàn)橄鄼C(jī)系統(tǒng)的掃描范圍僅限于大約1“x1"區(qū)域，存在光反射問(wèn)題。M/K地層分析儀采用獨(dú)立的像素掃描方法，避免了所有相機(jī)系統(tǒng)都會(huì)出現(xiàn)的光散射問(wèn)題。我們還包括一個(gè)功能，允許用戶將光學(xué)靈敏度從低設(shè)置更改為超高設(shè)置，允許您過(guò)濾掉不太重要的絮凝體和片材缺陷。除了透射分析，我們還提供了一套可選的表面掃描光學(xué)元件，可以表征您的板材表面。比較鋼絲面和毛氈面容易可靠。

　　采用新的“高分辨率"技術(shù)，將掃描分辨率提高了一倍。現(xiàn)在的高分辨率掃描具有高的分辨率，包括多達(dá)128種不同尺寸的絮凝體。

　　一些行業(yè)zhuanli參考包括：

　　1.施樂(lè)公司，#美國(guó)zhuanli#5,935,689，“打印方法"。

　　2.寶潔公司，美國(guó)zhuanli#6,114,471，“強(qiáng)化紙"。

　　3.金伯利·克拉克，美國(guó)zhuanli# US 7,258,758，“強(qiáng)化非織造布"。

　　4.Rayonier，美國(guó)zhuanli#8,497,410“制造吸收性產(chǎn)品的方法"。

　　5.Newpage，美國(guó)zhuanli#8,727,528，“用于噴墨打印的光滑記錄介質(zhì)"。